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GIA宣佈鑽石切磨分級系統實行計劃

刊登日期:2007/1/24   |   資料來源:GIA Taiwan
 
 

2005年8月1日,GIA已對外宣佈將從2006年1月1日起對GIA D ~ Z成色範圍及淨度FL~I3的圓形明亮式切磨鑽石簽發新的分級報告書。

新的報告書將加入切磨的分級。從2005年8月1日至12月30日這段期間,作為業內人士學習GIA新的鑽石切磨分級系統及了解它所帶來之利益的緩衝期。

GIA寶石鑑定中心自2005年1月起,即對於其分級的大多數圓形明亮式鑽石收集必要的比例資料,對於2005年8月至12月所簽發的報告書,無需將鑽石送回鑑定中心,GIA就可提供免費更新報告書的服務。而2005年8月以前的報告書,則收取少許費用,少部份鑽石可能需送回鑑定中心,彙集更多的資料,以便簽發新的報告書。

GIA花費15年的時間進行深入的研究及測試,包括使用精細的電腦虛擬模型及光束追蹤分析3,850萬組以上的比例組合,並經人眼對2,300顆以上鑽石進行七萬次以上的觀察獲得印證。而最終將切磨等級加入現在廣受好評的GIA Diamond Grading Report及GIA Diamond Dossier R。

實行計劃公佈後,GIA校長Mr. William E. Boyajian提到,今日GIA光榮地為業界及大眾發表這套分析圓形明亮式鑽石切磨等級的精確分級系統,這套系統將協助零售業者,對於圓形明亮式鑽石切磨的影響有更佳的傳達,且讓消費者在購買的過程擁有信心,同時,對於切磨工廠考量由原石保留最大價值的選擇更具靈活性。GIA專業及精良的團隊付出極大的努力完成這套系統,實現GIA建立大眾對寶石及珠寶之信任的使命。

在這段時期,有兩個方法可以估計GIA切磨等級,第一,人們可將適當的參數輸入GIA提供的免費軟體〝GIA FacetwareTM Cut Estimator〞,可查詢http://www.diamondcut.gia.edu;第二,市場上可買到內鍵GIA FacetwareTM Cut Estimator〞軟體的光學測量設備,如Sarin或 OGI,它們可快速自動估計圓形明亮式鑽石的切磨等級。

GIA鑑定中心的執行長Mr. Thomas C. Yonelunas表示,GIA花費極大的心力,考量科學上的合理性及實際的運用,發展出這套切磨分級系統,希望業內人士能夠順利的度過這段轉換時期,所以在新證書簽發前,提供一段時間及必要的工具來讓大家了解GIA切磨分級系統。

更進一步來支持GIA鑽石切磨分級系統的執行,GIA同時發行:
一種標準的觀察環境〝GIA Diamond DockTM〞它可提供分析及展現圓形明亮式鑽石切磨品質的最理想光源。
〝GIA Multi-Purpose Gemological Reticle〞可讓您在顯微鏡下操作以人工來測量鑽石的比例。

解釋GIA鑽石切磨分級系統,及切磨等級將如何呈現於GIA鑑定報告書的宣傳小冊。

 


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