雙折光寶石可將一束光線分散成為兩束而造成重影的特性，稱為雙折光線。在找尋雙折光線時，應透視該寶石觀察對面物體，但須避開光軸方向觀察。

雖然雙折光寶石的折光率差是個十分穩定的光學特徵，但雙折光線的強度與寶石的大小有關連，寶石愈大時，雙折光線愈易見。當然，是否易見雙折光線與其觀察的角度也有關係。

在剛玉、石英中的雙折光線可能不易察覺，但在合成碳矽石及合成金紅石上卻十分容易看見。雙折光線對於判定超率限寶石的身分鑑定上特別有用，例如合成碳矽石、鋯石的判定，它們皆為雙折光寶石，在適度的練習下，藉由重影可以判定出它為雙折光寶石。

當找尋雙折光線時：

◆首先找透視寶石對面的刻面稜線、內含物及刮痕。但要確認一件事—即您所觀察到的並不是反射影像。

◆至少觀察三個以上的方向，以避免觀測到光軸方向，而雙折光線的強度亦會隨著觀察方向不同而改變，可在最大雙折光線出現處，粗略地推測其折光率差。

◆可使用顯微鏡對重影作一再確認，將偏振濾鏡置於寶石與顯微鏡接物鏡之間，並來回九十度的轉動偏振濾鏡，而重影會交互「出現」與「消失」。

某些透明雙折光寶石，在暗場光源檢視下可見到雙折光線，雙折光線可藉由寶石與接物鏡間放置一旋轉的偏光濾鏡來確認，它可使雙折光線出現與消失。

放大觀察合成碳矽石時，可見到刻面稜線具有重影。